硬化涂层膜厚仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台计算机控制的XY工作台，使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。
工作原理：
本产品采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。
硬化涂层膜厚仪的符合以下执行标准：
GB/T 4956-1985 磁性金属基本上非磁性覆盖层厚度测量（磁性方法）；
JB/T 4957-1985 磁性和涡流式覆层厚度测量仪；
JJG 889-95《磁阻法测厚仪》；
GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量（涡流方法）；
JJG 818-93《电涡流式测厚仪》；
主要特点：
1、
硬化涂层膜厚仪具有电源欠压指示功能；
2、操作过程有蜂鸣声提示；
3、具有存贮功能：可存贮300个测量值；
4、可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；
5、具有两种测量方式：连续测量方式和单次测量方式；
6、具有两种工作方式：直接方式和成组方式；
7、设有五个统计量：平均值、最大值、最小值、测试次数、标准偏差；
8、可进行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
9、具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除涂层测厚仪存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
10、具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便涂层测厚仪对数据进行进一步处理。
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