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产品分类
Product Category
FR-Ultra是一种紧凑型设备，专门用于快速、准确和无损测量半导体材料的厚/超厚层及透明层。
更新时间：
2024-01-19
型号：
厂商性质：
代理商
浏览量：
529
显示器薄膜测量仪*的光学模块可容纳所有光学部件：分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。
更新时间：
2024-01-19
型号：
FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
厂商性质：
代理商
浏览量：
949
硅片厚度测量仪采用的是近红外光(NIR)来测量膜层厚度，因此可以测试一些肉眼看是不透明的膜层( 比如半导体膜层) 。
更新时间：
2024-01-19
型号：
Filmetrics F3-sX
厂商性质：
代理商
浏览量：
1595
Filmetrics F3-sX半导体薄膜测量仪可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测大厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面较粗糙且不均
更新时间：
2024-01-19
型号：
厂商性质：
代理商
浏览量：
2125
Filmetrics F32薄膜厚度测量仪 使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。
更新时间：
2024-01-19
型号：
厂商性质：
代理商
浏览量：
1697
Filmetrics F60薄膜厚度测量仪 电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点，并在几秒钟内提供厚度测量。 选择数十种预定义的极坐标，矩形或线性地图模式中的一种，或创建自己的地图模式，不限制测量点的数量。 典型的49点图形大约需要45秒。
更新时间：
2024-01-19
型号：
厂商性质：
代理商
浏览量：
1184
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