FilmSense多波段椭偏仪可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征。

Raditech致力于光学检测设备，在光学量测设备领域专业度高、能提供整合性解决方案。推出第一台国人自制的「全光谱椭圆偏光量测仪」及「全光谱反射式膜厚量测仪」，能协助产业界迈向更精密化、更微细化，技术与国际大厂并驾齐驱，产品精确度高、价格具竞争力，稳健迈向国内自制最高质量之精密光学量测设备制造商。