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光学膜厚仪的误差主要来源于4个方面
2024-07-27

在光学、材料科学及制造业中,光学膜厚仪作为测量薄膜厚度的关键工具,其测量精度直接影响到产品的质量和生产效率。然而,任何测量仪器都不可避免地存在一定的误差,光学膜厚仪也不例外。本文将围绕该仪器的误差进行解析,探讨其误差来源、影响因素及改进措施...

  • 2020-09-21

    HerzTS主动隔振台介绍:在21世纪纳米技术(即先进的半导体代表相关的信息技术,基因疗法等生命科学相关技术,原子或分子处理如MEMS和工程技术等新材料生产),振动、噪声、电磁领域、热、湿度、干扰等是测量环境的抑制因素。在纳米技术中,为了获得可靠的结果,使用充气被动隔振台无法隔离低频振动,此时需要主动隔离。主动式隔振系统“TS系列”将作为21世纪纳米技术的隔振技术基础。它将有助于发展目前的技术和测量、创新和发展未知的技术。HerzTS主动隔振台特点:1、在全部的6个自由度范围...

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